ГОСТ 13096-82

Группа У99

     

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ОБЪЕКТИВЫ

Методы измерения рабочего и заднего отрезков

Objective lenses. Methods for measuring the flange focal and back focus distances*

________________

     * Наименование стандарта. Измененная редакция, Изм. N 1.    

ОКП 44 45000000     

Дата введения 1984-01-01

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 29 марта 1982 г. N 1296 срок введения установлен с 01.01.84

ВЗАМЕН ГОСТ 13096-67

ПЕРЕИЗДАНИЕ. Сентябрь 1987 г.

ВНЕСЕНО Изменение N 1, утвержденное и введенное в действие с 01.07.91 Постановлением Госстандарта СССР от 16.03.90 N 447

Изменение N 1 внесено изготовителем базы данных по тексту ИУС N 6, 1990 год

Настоящий стандарт распространяется на фотографические, киносъемочные объективы, объективы оптико-электронных приборов и устанавливает методы измерения рабочего и заднего отрезков.

Стандарт не распространяется на объективы, рассчитанные для работы на конечном расстоянии.

Термины и определения по ГОСТ 7427-76 и ГОСТ 25205-82.

(Измененная редакция, Изм. N 1).

1. АППАРАТУРА

1.1. Схема установки, на которой проводят измерение рабочего и заднего отрезков объектива, приведена на черт.1.

1 - источник света; 2 - конденсор; 3 - светофильтр; 4 - матовое стекло; 5 - тест-объект; 6 - объектив коллиматора; 7 - опорный торец объективодержателя; 8 - испытуемый объектив; 9 - поворотный рычаг с продольными направляющими; 10 - поперечные направляющие; 11 - каретка, перемещаемая по поперечным направляющим; 12 - микрометрический механизм продольного перемещения; 13 - приемник изображения

Черт.1

(Измененная редакция, Изм. N 1).

1.2. Апертура конденсора должна быть не меньше апертуры объектива коллиматора.

1.3. Спектральная характеристика светофильтра должна соответствовать рабочей области спектра испытуемого объектива, указанной в нормативно-технической документации на объектив конкретного вида.

1.4. При визуальных измерениях следует использовать монохроматический светофильтр, максимум пропускания которого соответствует расчетной длине волны испытуемого объектива. Допускается использовать светофильтр полушириной 40 нм при точности воспроизведения расчетной длины волны ±20 нм.

1.5. Световой диаметр объектива коллиматора должен быть больше диаметра входного зрачка испытуемого объектива. Фокусное расстояние объектива коллиматора должно быть не менее чем в 5 раз больше фокусного расстояния испытуемого объектива.

1.6. Тест-объект и приемник изображения выбирают в соответствии с требованиями нормативно-технической документации на объектив конкретного вида. В качестве тест-объекта допускается использовать миру, точечную диафрагму, щель и т.п. При визуальных измерениях приемником служит глаз; при фотографических - фотоматериал; при измерении коэффициента передачи контраста или концентрации энергии - фотоэлектрический приемник.

Апертура объектива микроскопа должна быть больше апертуры испытуемого объектива.

Увеличение микроскопа должно быть не менее 150.

1.7. Тест-объект устанавливают в фокальную плоскость объектива коллиматора.

Допустимую погрешность установки тест-объекта определяют по формуле

,

где - фокусное расстояние объектива коллиматора, мм;

- диаметр входного зрачка испытуемого объектива, мм;

- длина волны света, мм.

1.8. Механизм продольного перемещения каретки, несущей приемник изображения, должен быть снабжен микрометрическим отсчетным устройством с ценой деления не более 0,02 мм.

1.9. Поперечная направляющая должна быть параллельна опорному торцу объективодержателя. Допустимое отклонение от параллельности определяют по формуле

,

где - допустимое отклонение от параллельности (угол между опорным торцом объективодержателя и поперечными направляющими), мин;

- глубина резкости испытуемого объектива, мм;

- расстояние от оптической оси до крайней точки поля зрения испытуемого объектива, мм.

1.10. Плоскость наилучшего изображения выбирают в соответствии с требованиями, предъявляемыми к испытуемому объективу, и указывают в нормативно-технической документации на объектив конкретного вида.

При выборе плоскости наилучшей установки приемника изображения по центру поля объектива в схеме аппаратуры (см. черт.1) не требуется наличие поворотного рычага и поперечных направляющих.

1.11. В качестве измерительного прибора должны быть использованы микрометрические или индикаторные нутромеры и глубиномеры.

1.12. При проверке больших партий малогабаритных объективов, выпускаемых серийно, допускается использовать специальный шаблон (черт.2).

1 - опорный торец объективодержателя; 2 - шаблон; 3 - микроскоп; 4 - отсчетная шкала механизма продольного перемещения микроскопа

Черт.2

Поверхность имитирует опорный торец объектива, предназначенный для посадки объектива на камеру. Полированная поверхность - положение плоскости изображения эталонного образца испытуемой серии объективов. Поверхности и должны быть параллельны. Отклонение от параллельности этих поверхностей должно быть не более 2'. Размер равен номинальному значению рабочего отрезка с погрешностью, не превышающей 0,01 мм.

Примечание. Опорный торец объективодержателя, на который опирается испытуемый объектив, обращен в пространство предметов (черт.2а) и в пространство изображений (черт.2б).

2. ПОДГОТОВКА К ИЗМЕРЕНИЯМ