Статус документа
Статус документа

ГОСТ IEC 61000-4-3-2016 Электромагнитная совместимость (ЭМС). Часть 4-3. Методы испытаний и измерений. Испытание на устойчивость к излучаемому радиочастотному электромагнитному полю

Приложение I
(справочное)

     
Метод калибровки пробников E-поля

I.1 Обзор

В процедурах калибровки однородного поля в соответствии с IEC 61000-4-3 интенсивно используются широкополосные пробники E-поля с большим динамическим диапазоном. Качество калибровки с использованием пробника поля непосредственно влияет на бюджет неопределенности при испытаниях на устойчивость к излученному электромагнитному полю.

Обычно при калибровке однородного поля в соответствии с IEC 61000-4-3 пробники используют для измерения относительно низких значений напряженности поля, например в пределах 1-30 В/м. Поэтому при калибровке пробников Е-поля, используемых по IEC 61000-4-3, следует рассматривать частоту и динамический диапазон.

Если пробники калибруются в разных калибровочных лабораториях, результаты их калибровки, как правило, различны. Поэтому должны быть установлены обстановка и методы калибровки пробников. В настоящем приложении приведена информация о калибровке пробников, используемых по IEC 61000-4-3.

Одним из наиболее широко используемых методов калибровки пробников для применений IEC 61000-4-3 в полосе частот от нескольких сотен мегагерц до нескольких гигагерц является использование рупорных антенн стандартного усиления для создания опорного поля внутри безэховой камеры. Однако для этого метода отсутствует установленный метод валидации испытательной обстановки при калибровке пробника поля. При использовании этого метода наблюдаются различия между калибровочными лабораториями, выходящие за пределы их заявленных неопределенностей измерений.

Калибровка пробников в полосе частот от 80 МГц до нескольких сотен МГц, которая обычно проводится в ТЕМ-волноводах, дает, как правило, более воспроизводимые результаты.

Поэтому настоящее приложение концентрируется на улучшении калибровки пробников с использованием рупорных антенн в безэховых камерах, для которых отсутствуют исчерпывающие процедуры калибровки.

I.2 Требования к калибровке пробника

I.2.1 Общие положения

Калибровка пробников E-поля, предназначенных для использования в процедурах калибровки поля в плоскости однородного поля (UFA) по IEC 61000-4-3, должна удовлетворять следующим требованиям.

I.2.2 Полоса частот при калибровке

Полоса частот должна быть обычно от 80 МГЦ до 6 ГГц, но может быть ограничена полосой частот, требуемой для испытания.

I.2.3 Шаги частоты

Чтобы было возможно сравнивать результаты различных калибровочных лабораторий, необходимо для калибровки использовать фиксированные частоты.

80 МГц-1 ГГц:

- используют следующие частоты для калибровки пробников E-поля (типичный шаг 50 МГц):

80, 100, 150, 200,..., 950, 1000 МГц.

1-6 ГГц;

- используют следующие частоты для калибровки пробников E-поля (типичный шаг 200 МГц):

1000, 1200, 1400,..., 5800, 6000 МГц.

Примечание - Если пробник используется в полосах частот ниже и выше 1 ГГц, измерения пробника на частоте 1 ГГц должны быть проведены дважды.

I.2.4 Напряженность поля

Выбор напряженности поля, при которой пробник калибруют, должен быть основан на значении напряженности поля, требуемой для проведения испытания на помехоустойчивость.

Так как для обеспечения однородности испытательного поля процедуру калибровки следует проводить при напряженности поля по меньшей мере в 1,8 раза превышающей напряженность поля, воздействующего на ИО при испытаниях, рекомендуется, чтобы калибровка пробника была проведена при напряженности поля, превышающей напряженность поля при испытаниях в два раза (см. таблицу I.1). Если пробник должен быть использован при различных уровнях поля, он должен быть калиброван при нескольких уровнях в соответствии с его линейностью, как минимум, при минимальном и максимальном уровнях (см. также I.3.2).

Примечание 1 - При этом также удовлетворяются требования к компрессии 1 дБ усилителя мощности.

Примечание 2 - Калибровку проводят с использованием непрерывных сигналов без модуляции.


Таблица I.1 - Уровень напряженности поля при калибровке