ГОСТ Р 56980.2-2020 (МЭК 61215-2:2016) Модули фотоэлектрические. Оценка соответствия техническим требованиям. Часть 2. Методы испытаний
Приложение ДБ
(справочное)
Сопоставление структуры настоящего стандарта со структурой примененного в нем международного стандарта
Указанное в таблице изменение структуры настоящего стандарта относительно структуры примененного международного стандарта обусловлено приведением в соответствие с требованиями, установленными в ГОСТ Р 1.5-2012 "Стандартизация в Российской Федерации. Стандарты национальные. Правила построения, изложения, оформления и обозначения".
Таблица ДБ.1
Структура настоящего стандарта | Структура международного стандарта МЭК 61215-2:2016 |
1 Область применения | 1 Область применения |
2 Нормативные ссылки | 2 Нормативные ссылки |
3 Стабилизация (4.19) | 3 Термины и определения |
3.1 Общие положения (4.19.1) | 4 Испытания |
3.2 Критерий завершения стабилизации (4.19.2) | 4.1 Визуальный контроль (MQT 01) |
3.3 Методы стабилизации (4.19.3-4.19.4) | 4.1.1 Цель |
3.3.1 Стабилизация освещением (4.19.3) | 4.1.2 Проведение испытаний |
3.3.2 Альтернативные методы стабилизации (4.19.4) | 4.1.3 Оценка результатов испытаний |
3.4 Начальная стабилизация (4.19.5) | 4.2 Определение максимальной мощности (MQT 02) |
3.5 Конечная стабилизация (4.19.6) | 4.2.1 Цель |
4 Испытания | 4.2.2 Испытательное оборудование |
4.1 Визуальный контроль | 4.2.3 Проведение испытаний |
4.1.1 Назначение | 4.3 Измерение сопротивления изоляции (MQT 03) |
4.1.2 Испытательное оборудование | 4.3.1 Цель |
4.1.3 Проведение испытания (4.1.2) | 4.3.2 Испытательное оборудование |
4.1.4 Оценка результатов испытаний (4.1.3) | 4.3.3 Условия испытаний |
4.2 Измерение вольт-амперных характеристик | 4.3.4 Проведение испытаний |
4.2.1 Общие положения | 4.3.5 Оценка результатов испытаний |
4.2.2 Испытательное оборудование | 4.4 Определение температурных коэффициентов (MQT 04) |
4.2.3 Измерение вольт-амперных характеристик при стандартных условиях испытаний (СУИ) (4.6) | 4.5 Определение номинальной рабочей температуры модуля (НРТМ) (MQT 05) |
4.2.4 Измерение вольт-амперных характеристик при выбранных условиях по энергетической освещенности и температуре (4.2) | 4.5.1 Общие положения |
4.2.5 Измерение вольт-амперных характеристик в условиях низкой освещенности (УНО) (4.7) | 4.5.2 Метод |
4.3 Измерение сопротивления изоляции | 4.5.3 Проведение испытаний |
4.3.1 Назначение | 4.6 Измерение вольт-амперных характеристик при СУИ и НРТМ (MQT 06) |
4.3.2 Испытательное оборудование и материалы | 4.6.1 Цель |
4.3.3 Условия испытаний | 4.6.2 Испытательное оборудование |
4.3.4 Проведение испытаний | 4.6.3 Проведение испытаний |
4.3.5 Заключительные испытания | 4.7 Измерение вольт-амперных характеристик в условиях низкой энергетической освещенности (MQT 07) |
4.3.6 Оценка результатов испытаний | 4.7.1 Цель |
4.4 Определение температурных коэффициентов | 4.7.2 Испытательное оборудование |
4.5 Испытание на комплексное воздействие факторов окружающей среды в натурных условиях (4.8) | 4.7.3 Проведение испытаний |
4.5.1 Назначение (4.8.1) | 4.8 Натурные испытания (MQT 08) |
4.5.2 Испытательное оборудование (4.8.2) | 4.8.1 Цель |
4.5.3 Проведение испытания (4.8.3) | 4.8.2 Испытательное оборудование |
4.5.4 Заключительные испытания (4.8.4) | 4.8.3 Проведение испытаний |
4.5.5 Оценка результатов испытаний (4.8.5) | 4.8.4 Заключительные испытания |
4.6 Испытания на стойкость к местному перегреву (4.9) | 4.8.5 Оценка результатов испытаний |
4.6.1 Назначение (4.9.1, 4.9.5.1) | 4.9 Испытания на стойкость к местному перегреву (MQT 09) |
4.6.2 Явление местного перегрева (4.9.2) | 4.9.1 Цель |
4.6.3 Типы соединений фотоэлектрических элементов, защищенных одним шунтирующим диодом (4.9.3) | 4.9.2 Явление местного перегрева |
4.6.4 Испытательное оборудование (4.9.4) | 4.9.3 Типы соединений фотоэлектрических элементов, защищенных одним шунтирующим диодом |
4.6.5 Испытание фотоэлектрических модулей на основе фотоэлектрических элементов на полупроводниковой пластине (4.9.5.2) | 4.9.4 Испытательное оборудование |
4.6.6 Испытания тонкопленочных фотоэлектрических модулей | 4.9.5 Проведение испытаний |
4.6.7 Заключительные испытания (4.9.6) | 4.9.6 Заключительные испытания |
4.6.8 Оценка результатов испытаний (4.9.7) | 4.9.7 Оценка результатов испытаний |
4.7 Испытание на воздействие ультрафиолетового излучения (4.10) | 4.10 Испытание на воздействие ультрафиолетового излучения (MQT 10) |
4.7.1 Назначение (4.10.1) | 4.10.1 Цель |
4.7.2 Испытательное оборудование (4.10.2) | 4.10.2 Испытательное оборудование |
4.7.3 Проведение испытаний (4.10.3) | 4.10.3 Проведение испытаний |
4.7.4 Заключительные испытания (4.10.4) | 4.10.4 Заключительные испытания |
4.7.5 Оценка результатов испытаний (4.10.5) | 4.10.5 Оценка результатов испытаний |
4.8 Термоциклирование (4.11) | 4.11 Термоциклирование (MQT 11) |
4.8.1 Назначение (4.11.1) | 4.11.1 Цель |
4.8.2 Испытательное оборудование (4.11.2) | 4.11.2 Испытательное оборудование |
4.8.3 Проведение испытаний (4.11.3) | 4.11.3 Проведение испытаний |
4.8.4 Заключительные испытания (4.11.4) | 4.11.4 Заключительные испытания |
4.8.5 Оценка результатов испытаний (4.11.5) | 4.11.5 Оценка результатов испытаний |
4.9 Термоциклирование при высокой влажности (4.12) | 4.12 Термоциклирование при высокой влажности (MQT 12) |
4.9.1 Назначение (4.12.1) | 4.12.1 Цель |
4.9.2 Испытательное оборудование (4.12.2) | 4.12.2 Испытательное оборудование |
4.9.3 Проведение испытаний (4.12.3) | 4.12.3 Проведение испытаний |
4.9.4 Заключительные испытания (4.12.4) | 4.12.4 Заключительные испытания |
4.9.5 Оценка результатов испытаний (4.12.5) | 4.12.5 Оценка результатов испытаний |
4.10 Испытание на воздействие высокой температуры при высокой влажности (4.13) | 4.13 Испытания на воздействие высокой влажности при высокой температуре (MQT 13) |
4.10.1 Назначение (4.13.1) | 4.13.1 Цель |
4.10.2 Проведение испытаний (4.13.2) | 4.13.2 Проведение испытаний |
4.10.3 Заключительные испытания (4.13.3) | 4.13.3 Заключительные испытания |
4.10.4 Оценка результатов испытаний (4.13.4) | 4.13.4 Оценка результатов испытаний |
4.11 Испытания надежности средств внешних соединений (4.14) | 4.14 Испытания надежности средств внешних соединений (MQT 14) |
4.11.1 Назначение (4.14.1) | 4.14.1 Цель |
4.11.2 Проверка надежности крепления коммутационной коробки (4.14.2) | 4.14.2 Проверка надежности крепления коммутационной коробки (MQT 14.1) |
4.11.3 Испытания надежности закрепления кабелей и проводов (4.14.3) | 4.14.3 Испытания надежности закрепления кабелей и проводов (MQT 14.2) |
4.12 Испытание изоляции на влагостойкость (4.15) | 4.15 Испытание изоляции на влагостойкость (MQT 15) |
4.12.1 Назначение (4.15.1) | 4.15.1 Цель |
4.12.2 Испытательное оборудование (4.15.2) | 4.15.2 Испытательное оборудование |
4.12.3 Проведение испытаний (4.15.3) | 4.15.3 Проведение испытаний |
4.12.4 Заключительные испытания (-) | 4.15.4 Оценка результатов испытаний |
4.12.5 Оценка результатов испытаний (4.15.4) | 4.16 Испытания на стойкость к механическим нагрузкам (MQT 16) |
4.13 Испытание на воздействие статической механической нагрузки (4.16) | 4.16.1 Общие положения |
4.13.1 Общие положения (4.16.1) | 4.16.2 Испытательное оборудование |
4.13.2 Испытательное оборудование (4.16.2) | 4.16.3 Проведение испытаний |
4.13.3 Проведение испытаний (4.16.3) | 4.16.4 Заключительные испытания |
4.13.4 Заключительные испытания (4.16.4) | 4.16.5 Оценка результатов испытаний |
4.13.5 Оценка результатов испытаний (4.16.5) | 4.17 Испытания на стойкость к ударам града (MQT 17) |
4.14 Испытание на стойкость к ударам града (4.17) | 4.17.1 Цель |
4.14.1 Назначение (4.17.1) | 4.17.2 Испытательное оборудование |
4.14.2 Испытательное оборудование (4.17.2) | 4.17.3 Проведение испытаний |
4.14.3 Проведение испытаний (4.17.3) | 4.17.4 Заключительные испытания |
4.14.4 Заключительные испытания (4.17.4) | 4.17.5 Оценка результатов испытаний |
4.14.5 Оценка результатов испытаний (4.17.5) | 4.18 Испытания шунтирующих диодов (MQT 18) |
4.15 Испытания шунтирующих/блокирующих диодов (4.18) | 4.18.1 Испытание шунтирующих диодов на термостойкость (MQT 18.1) |
4.15.1 Испытание шунтирующих/блокирующих диодов на термостойкость (4.18.1) | 4.18.2 Испытание шунтирующих диодов на работоспособность (MQT 18.2) |
4.15.2 Испытание шунтирующих/блокирующих диодов на работоспособность (4.18.2) | 4.19 Стабилизация (MQT 19) |
4.16 Испытание маркировки на стойкость к истиранию (-) | 4.19.1 Общие положения |
Приложение А (справочное) Обозначение методов испытаний | 4.19.2 Показатель завершения стабилизации |
Приложение В (обязательное) Условия испытаний для определения электрических характеристик фотоэлектрических устройств и систем | 4.19.3 Стабилизация освещением |
Приложение ДА (справочное) | 4.19.4 Альтернативные методы стабилизации |
Приложение ДБ (справочное) Сопоставление структуры настоящего стандарта со структурой примененного в нем международного стандарта | 4.19.5 Начальная стабилизация (MQT 19.1) |
4.19.6 Конечная стабилизация (MQT 19.2) | |
Примечание - После заголовков разделов (подразделов) настоящего стандарта приведены в скобках номера аналогичных им разделов (подразделов, пунктов) международного стандарта. | |